海德汉历史中和产品开发中的里程碑
海德汉历史中和产品开发中的里程碑
公司源自威廉·海德汉于1889年在德国柏林创建的金属蚀刻工厂。 这家工厂生产模板，标识，刻度尺和标尺。 二战期间公司被毁，威廉·海德汉之子在地处德国特劳恩罗伊特创建约翰内斯·海德汉博士公司(DR. JOHANNES HEIDENHAIN)。 最初的产品也是刻度尺和零售用的计价秤。 不久后开始生产机床的光学位置测量系统。 六十年代初期开始转向生产光电扫描的直线光栅尺和角度编码器。 这些发展促成了制造业中许多机器和设备的自动化。
七十年代中期以后，海德汉公司已成为机床数控系统和驱动系统的重要制造商。
自公司创建始，一直秉持注重技术发展之路。 为保持公司持续发展和技术领先地位，1970年约翰内斯•海德汉博士将其持有的公司股份转入基金会。 这使今天的海德汉公司可投入大量资金进行研发。
重要历史里程碑
| 1889 |
威廉·海德汉在柏林创建金属蚀刻公司 |
| 1923 |
约翰内斯·海德汉博士加入其父亲的公司 |
| 1948 |
约翰内斯·海德汉博士公司开始在特劳恩罗伊特运营 |
| 1950 |
发明DIADUR工艺： 用母版光栅制版技术生产高耐用性的高精度光栅 |
| 1970 |
成立非赢利的约翰内斯·海德汉基金会 |
| 1980 |
约翰内斯·海德汉博士去世 |
| 2014 |
海德汉在全部工业化国家设立代表处 |
计量项目
| 1961 |
光电扫描测量显微镜 |
| 1966 |
为德国联邦物理技术研究院（PTB）提供干涉比较仪 |
| 1971 |
为PTB提供角度测量台和圆光栅检测设备 |
| 1977 |
为PTB提供高精度纳米尺 |
| 1989 |
新技术望远镜（NTT）的角度编码器 |
| 1999 |
超大型望远镜（VLT）的角度编码器 |
| 1999 |
多个国家计量院间国际NANO-3长度比对测量的直线光栅尺 |
| 2001 |
为PTB提供纳米干涉比较仪 |
| 2003 |
海德汉，PTB与AIST（日本产业技术综合研究所）间角度比对测量 |
| 2004 |
海德汉，PTB与MITUTOYO间长度比对测量 |
| 2004 |
角度编码器用于加那利大型望远镜（Gran Telescopio CANARIAS） |
| 2005 |
海德汉与PTB间角度比对测量 |
| 2007 |
为25个欧洲ALMA天线提供角度编码器（Atacama大型阵列望远镜） |
| 2013 |
角度编码器用于丹尼尔·井上太阳望远镜（DKIST，原先进技术太阳望远镜，ATST） |
光栅技术里程碑
| 1936 |
用照相制版生产玻璃光栅尺，精度± 0.015 mm |
| 1943 |
用制版技术生产圆光栅，精度± 3秒 |
| 1952 |
重量秤成为主要收入来源 |
| 1967 |
自持光栅，显微结构 |
| 1985 |
增量式直线光栅尺的距离编码参考点 |
| 1986 |
相位光栅 |
| 1995 |
二维编码器格栅 |
| 2002 |
干涉扫描直线光栅尺的平面相位光栅 |
| 2005 |
抗污染的幅值光栅，激光烧蚀法生产 |
| 2009 |
大型二维格栅（400 mm x 400 mm），用于半导体工业的测量系统 |
编码器里程碑： 敞开式直线光栅尺
| 1952 |
机床的光学直线光栅尺 |
| 1961 |
LID 1增量式直线光栅尺，栅距8 µm / 测量步距2 µm |
| 1963 |
LIC绝对式直线光栅尺，18条刻轨，纯二进制编码 / 测量步距5 µm |
| 1965 |
激光干涉仪，用于机床校准 |
| 1987 |
LIP 101敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距0.02 µm |
| 1989 |
LIP 301敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距1 nm |
| 1992 |
PP 109R二维干涉扫描直线光栅尺 |
| 2008 |
LIP 200干涉扫描直线光栅尺，信号周期0.512 µm，最高运动速度3 m/s |
| 2010 |
LIC 4000绝对式敞开直线光栅尺，2条刻轨，伪随机码，EnDat 2.2，最大测量长度27 m和分辨率1 nm |
| 2012 |
LIC 2100绝对式单条刻轨直线光栅尺 |
| 2015 |
LIP 6000紧凑型干涉扫描直线光栅尺 |
编码器里程碑： 封闭式直线光栅尺
| 1952 |
机床的光学直线光栅尺 |
| 1966 |
LIDA 55.6全封闭增量式钢带直线光栅尺 |
| 1975 |
LS 500玻璃光栅的增量式直线光栅尺，最大测量长度3 m，测量步距10 µm |
| 1977 |
LIDA 300增量式直线光栅尺，最大测量长度30 m |
| 1994 |
LC 181全封闭绝对式直线光栅尺，7条刻轨，EnDat接口，测量长度3 m，测量步距0.1 µm |
| 1996 |
LC 481绝对式直线光栅尺，2条刻轨， PRC，EnDat，最大测量长度2 m |
| 2011 |
LC 200绝对式直线光栅尺，最大测量长度28 m，PRC，测量步距10 nm |
| 2014 |
LC xx5绝对式直线光栅尺，最大测量长度4 m，测量步距1 nm |
| 2015 |
LP 100增量式直线光栅尺，最大测量长度3 m，测量步距32.5 pm |
编码器里程碑： 角度编码器
| 1952 |
光学角度编码器 |
| 1957/1961 |
ROD 1光电扫描角度编码器，每圈40,000个信号周期，10,000线 |
| 1962 |
ROD 1每圈72,000个信号周期 |
| 1964 |
ROC 15绝对式角度编码器 / 分辨率17 bit |
| 1975 |
ROD 800增量式角度编码器，精度± 1秒 |
| 1986 |
RON 905增量式角度编码器，精度± 0.2秒 |
| 1997 |
RCN 723绝对式角度编码器，空心轴带定子联轴器版，单圈23 bit，EnDat接口，精度± 2秒 |
| 2000 |
ERP 880干涉扫描角度编码器，每圈180,000个信号周期，精度± 0.2秒 |
| 2004 |
RCN 727绝对式角度编码器，空心轴，最大直径100 mm |
| 2009 |
ROP 8080晶片测针的干涉扫描角度编码器，有承载功能的角度编码器，每圈360,000个信号周期 |
| 2011 |
ERP 1080微型干涉扫描角度编码器，单芯片的编码器结构 |
编码器里程碑： 旋转编码器
| 1957/1961 |
ROD 1增量式光电扫描旋转编码器，10,000线 |
| 1964 |
ROD 2 / ROD 4系列增量式标准旋转编码器 |
| 1981 |
ROD 426增量式旋转编码器：工业标准 |
| 1987 |
ROC 221 S绝对式多圈编码器，单圈12 bit，多圈9 bit |
| 1992 |
ERN 1300伺服驱动的增量式旋转编码器，最高工作温度120 °C |
| 1993 |
ECN 1300和EQN 1300绝对式单圈和多圈旋转编码器 |
| 2000 |
EQN 1100微型绝对式多圈旋转编码器，板载芯片技术 |
| 2000 |
ECN 100绝对式单圈旋转编码器，最大空心轴直径50 mm |
| 2004 |
ECI 1100和EQI 1100微型绝对式单圈和多圈旋转编码器，感应扫描 |
| 2007 |
绝对式旋转编码器带“功能安全”特性，满足SIL2/PL d应用要求和EnDat 2.2接口SIL2/PL d应用要求及EnDat 2.2接口 |
| 2012 |
ERN 1387高精度增量式扫描，采用创新的 |
| 2014 |
绝对式旋转编码器满足SIL3/PL e应用要求，带EnDat 2.2接口和故障防范 |
NC数控系统和电子产品里程碑
| 1968 |
VRZ 59.4单轴双向计数器 |
| 1974 |
海德汉5041数显装置 |
| 1976 |
TNC 110和TNC 120 3轴数字定位控制系统 |
| 1979 |
TNC 131 / TNC 135简易数控系统 |
| 1981 |
TNC 145 3轴数控系统 |
| 1984 |
TNC 155 4轴数控系统，带工件加工图形仿真功能 |
| 1995 |
EnDat绝对位置编码器的同步串行接口 |
| 1996 |
TNC 426配数字驱动的5轴数控系统 |
| 1996 |
TNC 410 MA海德汉全套变频器和电机 |
| 2004 |
iTNC 530配新型smarT.NC操作模式的数控系统 |
| 2007 |
TNC 620配串行数控接口HSCI的数控系统 |
| 2011 |
TNC 640铣车复合加工数控系统 |
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