自动系统可同时测量表面光洁度和轮廓

作者:本网编辑 文章来源:MM《现代制造》 发布时间:2015-05-08
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Hommel-Etamic Wavemove CNC测量站由Jenoptik Industrial Metrology公司研发,将高精密度测量能力与8个完全自动运动的轴进行了结合,可以一次运行同时测量表面光洁度和轮廓.

Hommel-Etamic Wavemove CNC测量站由Jenoptik Industrial Metrology公司研发,将高精密度测量能力与8个完全自动运动的轴进行了结合,可以一次运行同时测量表面光洁度和轮廓。这台自动测量站非常适合用于汽车行业应用,包括曲轴、凸轮轴、气缸座和气缸盖。例如,这套系统能够测量主轴承和销轴承以及曲轴推力面的表面光洁度,而同时可以使用轮廓探针来测量主轴承和销轴承上的凸面以及沟槽半径。

这套系统可以作为SPC测量站整合到生产过程当中。工件可以在任何生产阶段进行夹装,这套系统能够识别到工件,并通过操作程序自动建议预先定义的测量点。一旦工件装夹正确,操作者就可以使用一台DMC手持扫描器来采集数据矩阵代码。根据生产阶段以及工件类型,操作者可以选择适当的测量程序并开始执行测量操作。

测量探头可以沿工件上预先定义的测量点独立进行移动,并且可移动轴可以让测量柱沿上下方向和两侧方向进行移动。此外,用于测量工件的数据检测元件安装在一个可360°旋转的转台上,并也可以沿不同方向移动,而横向移动装置和测量探针也可以前后倾斜、左右摇摆和旋转。其电动式定位单元安装在一个花岗石板上,并且可以通过编程设置在空气活塞上移动测量柱。

这套系统的控制面板提供了一种用于编制CNC程序的简洁界面。用于加载过程的可选安全系统包括了一个光幕和传感器,用于监测部件的夹装。

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